簡述選擇真空型礦產(chǎn)元素分析儀時(shí)所需要考慮的關(guān)鍵因素
2025-04-16
真空型礦產(chǎn)元素分析儀是專為地質(zhì)和礦產(chǎn)領(lǐng)域設(shè)計(jì)的高精度分析儀器，核心優(yōu)勢在于真空環(huán)境下的無損檢測能力。該儀器通過能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù)，可在11Na至92U的元素范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)從ppm級到99.99%含量的快速定量分析，尤其擅長輕元素（如Na、Mg、Al）的檢測。為了確保...
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便攜式元素分析儀用于固體廢物中的貴金屬含量的測定
COMPASS300系列-便攜式XRF熒光光譜元素分析儀您的移動實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)場元素分析測試平臺固體廢物樣品成分非常復(fù)雜，含銅、鎳、鐵、錫等金屬，多以氧化物、氯化物、碳酸鹽等形式存在。傳統(tǒng)的固體廢物中的貴金屬含量的測定方法主要以濕法分析為主，但是由于固體廢物中金等貴重金屬的含量較低同時(shí)由于固體廢物的復(fù)雜性，導(dǎo)致濕法分析在定量分析的過程中容易受到其它金屬元素的干擾，難以測得固體廢物中貴金屬的準(zhǔn)確含量。在使用國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對Compass300XRF光譜儀進(jìn)行標(biāo)定后，固廢中貴金屬的含量分...
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XRF熒光光譜合金分析儀用于合金成分分析和牌號鑒定
X射線熒光光譜合金分析儀EDX9000A是分析檢測物質(zhì)中元素成分含量的*技術(shù)。合金牌號鑒定為其主要應(yīng)用之一。合金牌號鑒定過程主要包含兩部分:XRF光譜儀測定合金各元素含量以及根據(jù)含量在給定合金牌號庫中進(jìn)行牌號匹配查詢。在含量測定過程中，由于光譜儀物理參數(shù)以及幾何因子等儀器檢測參數(shù)不可忽略的數(shù)值誤差的存在，使得依賴確定性的物理數(shù)學(xué)方法的定量計(jì)算方法，比如基本參數(shù)(FP)法，需要適應(yīng)光譜儀器本身的個(gè)體差異性帶來的測量值誤差變化；在牌號匹配過程中，由于合金牌號各元素含量確定性范圍邊...
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高靈敏度光譜儀測金儀用于爐渣中金和銀的測定
耐火坩堝用于精煉金(Au)和銀(Ag)。在精煉過程中，少量金屬擴(kuò)散到坩堝。在其生命周期結(jié)束時(shí)，坩堝被壓碎并研磨，研磨后的物質(zhì)稱為渣滓。黃金和從浮渣中回收銀。洗滌液中金銀濃度浮渣一般高于其相應(yīng)礦石中的濃度。需要測定浮渣中的Au和Ag，了解其商業(yè)價(jià)值。常用的分析技術(shù)如原子吸收光譜法、光發(fā)射光譜法和電感耦合等離子體質(zhì)譜法是溶液采樣技術(shù)。由于渣滓難熔且具有化學(xué)惰性，需要一個(gè)復(fù)雜而耗時(shí)的程序?qū)⑵鋷虢鉀Q方案。此外，在分解過程中，存在風(fēng)險(xiǎn)污染，直接或通過試劑，以及損失分析物。由于渣滓難分...
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為什么真空臺式機(jī)X熒光光譜儀對輕元素（鈉鎂鋁硅磷）的檢測效果更好
X射線熒光（“XRF”）是已用于包括礦物的各種樣品的元素分析的技術(shù)。XRF分析器通過用X射線照射樣品上的一個(gè)點(diǎn)并測量由該樣品中不同元素所發(fā)射的特征X射線的光譜來確定該樣品的化學(xué)性質(zhì)。X射線的主要來源可以是X射線管或放射性材料如放射性同位素。如在此所使用的術(shù)語“X射線”包括在約IkeV與約150keV之間能量的光子，并因此將包括：由已激勵(lì)原子在其去激勵(lì)時(shí)發(fā)射的特征X射線；當(dāng)電子由原子散射時(shí)發(fā)射的韌致輻射X射線;分別地一般稱為瑞利(Rayleigh)和康普頓(Compton)散射...
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潤滑油金屬測試儀---XRF熒光光譜儀簡介
XRF熒光光譜儀Compass4294測定潤滑油中磨損金屬引言石油化學(xué)產(chǎn)品元素分析的五個(gè)關(guān)鍵應(yīng)用通常是通過能量色散X射線熒光（ED-XRF）儀器完成的：新鮮潤滑劑的混合控制和添加劑包的控制：潤滑劑和添加劑包分析的關(guān)鍵添加劑元素是Mg，P，S，Cl，Ca，Zn和Mo，在此應(yīng)用中，所選擇的分析方法*符合ASTMD7751。廢油分析：除主要添加元素外，其他重要元素還有Al，Si，K，Ti，V，Cr，Mn，F(xiàn)e，Ni，Cu，Sn，Sb和Pb。原油餾分中的硫：柴油和汽油中感興趣的主要元...
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國產(chǎn)XRF光譜儀與進(jìn)口儀器的技術(shù)對比與選購
熟話說得好：不積跬步,無以至千里.不積小流,無以成江海。分析儀器的質(zhì)量直接決定了國家制造業(yè)的高度。國產(chǎn)分析儀器任重而道遠(yuǎn)。X射線熒光光譜儀作為最為常見的元素成分分析工具之一，已經(jīng)在各個(gè)行業(yè)得到普遍應(yīng)用。本文將就該設(shè)備的原理，市場和技術(shù)現(xiàn)狀，以及國產(chǎn)進(jìn)口儀器的選購和對比做出詳細(xì)說明。首先，XRF（X-RayFluorescence-X射線熒光）是一種原子發(fā)射光譜儀。在XRF中，來自X射線光管主X射線光束的輻照會使熒光X射線的輻射呈現(xiàn)出樣品中所存在元素的分散能量特征。其原理就是：...
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XRF涂層測厚儀測量鍍層薄膜厚度
什么是鍍層？鍍層是指為了好看或儲存而在某些物品上的金屬表面涂上一層有機(jī)物，或者一層稀薄的金屬或?yàn)榉略炷撤N貴重金屬，在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層。復(fù)合鍍層的制備是在鍍液中加入一種或數(shù)種不溶固體顆粒，使固體顆粒與金屬離子共沉積的過程，它實(shí)際上是一種金屬基復(fù)合材料。什么是鍍層厚度測試？又有哪些方法呢？鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。鍍層厚度的測試方法主要有金相法、X射線熒光法和掃描電鏡測試法等等。XRF鍍層測厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚...
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