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正確處理真空型礦產(chǎn)元素分析儀故障是確保正常運(yùn)行的關(guān)鍵
正確處理真空型礦產(chǎn)元素分析儀故障是確保正常運(yùn)行的關(guān)鍵

2024-05-27

真空型礦產(chǎn)元素分析儀具有超高的靈敏度和重現(xiàn)性,能夠分析從硫到鈾的廣泛元素范圍,并覆蓋1ppm至99.99%的廣泛含量。其操作簡便,界面友好,適用于各種礦產(chǎn)資源的快速分析和評(píng)估,為地質(zhì)勘探、礦產(chǎn)開發(fā)等領(lǐng)域提供強(qiáng)有力的技術(shù)支持。真空型礦產(chǎn)元素分析儀在使用過程中可能會(huì)出現(xiàn)故障,了解并正...
  • 2024

    9-30
    古董分析工具——EDX9900 plus光譜儀 斷源與斷代是古陶瓷科學(xué)技術(shù)研究中的兩個(gè)重要方面,其中必定要使用到對(duì)古陶瓷標(biāo)本的化學(xué)組成以及記錄其年代信息的載體進(jìn)行測定的科學(xué)方法。測定古陶瓷標(biāo)本與各地制陶原料的化學(xué)組成可以確定古陶瓷的產(chǎn)地,并可在一定程度上幫助判斷古陶瓷的燒造年代;而通過檢測保留在古陶瓷內(nèi)部的記錄其年代信息的各種載體,則可以較準(zhǔn)確的進(jìn)行斷代。作為一款高性能的臺(tái)式能量色散X射線熒光(EDXRF)元素分析儀,新款EDX9900plus配置了基于Windows基本參數(shù)算法的FP(Fundamentalparamet...
  • 2024

    8-2
    巖石分析儀提供了哪些軟件功能 無論客戶的樣品是是固體,合金,粉末,液體或者漿液,EDX9000B都可以輕松實(shí)現(xiàn)從鈉(Na)到鈾(U)元素的無損定性和定量分析。更快的分析速度,更精確的測試結(jié)果,更穩(wěn)定的儀器性能。巖石分析儀應(yīng)用:塑膠及有機(jī)物:塑料材料PE,PVC,添加劑等元素分析石油化工:燃料,潤滑油監(jiān)測,添加劑,磨損金屬等中的硫元素分析環(huán)境:廢水,空氣污染,土壤和地面,排放控制等涂層厚度和薄膜:分析多層涂層,鋼涂層,雜質(zhì)等食品,化妝品和藥品:添加劑控制,原材料,有害金屬,包裝材料等界面清晰易用。選擇方法并...
  • 2024

    7-25
    哪些因素會(huì)影響測金儀的試驗(yàn)結(jié)果 測金儀的檢測對(duì)象:黃金、鉑金、鈀金、K金、K白金,合金,電鍍液等。應(yīng)用行業(yè):貴金屬及合金的成分分析。黃金K值快速鑒定(4k-24K)。千足金萬足金快速區(qū)分。黃金珠寶,鐘表和硬幣的真?zhèn)螠y試。牙科合金分析。鍍層厚度分析。電鍍液金屬元素含量分析。測金儀的優(yōu)勢:1.微光斑(1mm,0.5mm),1mm樣品檢測面積。利用我們的集成攝像頭和小點(diǎn)功能,來捕獲圖像并專注于小區(qū)域檢測。2.垂直光路設(shè)計(jì),提高復(fù)雜樣品檢測精度。3.多準(zhǔn)直器可選(0.5mm,1mm,2mm)。4.FP(基本參數(shù)法)...
  • 2024

    6-24
    X熒光測硫儀測量時(shí)要注意樣品臺(tái)板的位置 X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣,樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候,會(huì)放射出硫元素的特征X光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號(hào),儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對(duì)應(yīng)的測試強(qiáng)度。用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣品建立特征X射線強(qiáng)度與硫含量之間的關(guān)系,也就是標(biāo)定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標(biāo)定曲線...
  • 2024

    5-24
    XRF土壤分析儀無需每日校準(zhǔn)即可獲得高精度結(jié)果 土壤作為人類賴以生存的關(guān)鍵資源,在人類的生產(chǎn)生活中占據(jù)著至關(guān)重要的位置。土壤無機(jī)污染物中以重金屬比較突出,主要是由于重金屬不能為土壤微生物所分解,而易于積累。甚至有的通過食物鏈在人體內(nèi)蓄積,嚴(yán)重危害人體健康。便攜式XRF土壤分析儀實(shí)現(xiàn)了快速、準(zhǔn)確分析土壤中的有害金屬元素Pb(鉛),As(砷),Cd(鎘),Hg(汞),Cu(銅),Ni(鎳),Zn(鋅),Cr(鉻)等,能夠?qū)崟r(shí)現(xiàn)場對(duì)廠區(qū)、礦區(qū)、重工業(yè)區(qū)周邊的環(huán)境進(jìn)行監(jiān)測,從而進(jìn)行控制排放和污染治理。操作人員可以直接用Compas...
  • 2024

    4-25
    EDX8800M MAX能量色散熒光光譜儀不同的應(yīng)用案例 作為一款立式X射線熒光(EDXRF)材料分析儀,EDX8800MMAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng),同時(shí)搭配了高計(jì)數(shù)率和高分辨率的FSDD探測器,它提供了出色的線性動(dòng)態(tài)范圍,可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實(shí)現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。ESI英飛思EDX8800MMAX光譜儀主要應(yīng)用于在第三方實(shí)驗(yàn)室及各種需要進(jìn)行高精度材料成分分析的場所。應(yīng)用方向:RoHS篩選測試,有害金屬快速篩查。石油化工:燃料,潤滑油監(jiān)測,添加劑,磨損金屬等中的硫元素分析。環(huán)境:廢水,空氣污染,土壤...
  • 2024

    4-22
    X熒光鍍層測厚儀出現(xiàn)故障后及時(shí)解決非常重要 X熒光鍍層測厚儀具有測量精度高、穩(wěn)定性好、操作簡便等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于金屬加工、電子、環(huán)境監(jiān)測及質(zhì)檢等行業(yè)。它不僅能快速準(zhǔn)確地確定涂層厚度,還能分析元素的成分和化學(xué)狀態(tài),為產(chǎn)品質(zhì)量控制和科學(xué)研究提供有力支持。在長期使用過程中,X熒光鍍層測厚儀可能會(huì)遇到一些故障。這些故障不僅會(huì)影響測量精度,還可能影響工作效率。因此,了解這些故障及其相應(yīng)的解決方法至關(guān)重要。1、測量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。這可能是由于儀器校準(zhǔn)不當(dāng)或傳感器老化導(dǎo)致的。針對(duì)這類故障,我們可以首先嘗試重新校準(zhǔn)儀器,確保校準(zhǔn)參數(shù)正確無...
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