COMPASS300系列-便攜式XRF熒光光譜元素分析儀

您的移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)場(chǎng)元素分析測(cè)試平臺(tái)

固體廢物樣品成分非常復(fù)雜，含銅、鎳、鐵、錫等金屬，多以氧化物、氯化物、碳酸鹽等形式存在。傳統(tǒng)的固體廢物中的貴金屬含量的測(cè)定方法主要以濕法分析為主，但是由于固體廢物中金等貴重金屬的含量較低同時(shí)由于固體廢物的復(fù)雜性，導(dǎo)致濕法分析在定量分析的過(guò)程中容易受到其它金屬元素的干擾，難以測(cè)得固體廢物中貴金屬的準(zhǔn)確含量。在使用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對(duì)Compass 300 XRF光譜儀進(jìn)行標(biāo)定后，固廢中貴金屬的含量分析達(dá)到了理想的結(jié)果。

特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)

•Compass 300配備的SDD檢測(cè)器優(yōu)勢(shì)

>高分辨率：通常優(yōu)于130ev，降低相鄰元素干擾，并提高輕元素檢測(cè)效果

>高計(jì)數(shù)率：150,000 cps (high count per second)

得到相同的強(qiáng)度，只要普通Si Pin檢測(cè)器的0.2~0.05倍的時(shí)間，即Si Pin在設(shè)定分析時(shí)間為100秒的話(huà)，對(duì)SDD而言，得到相同的強(qiáng)度，只需5~20秒

>高靈敏度：靈敏度提高6-10倍。低背景值，提高元素檢測(cè)下限

•便攜，堅(jiān)固，緊湊的設(shè)計(jì)，輕松實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)高精度樣品無(wú)損檢測(cè)

•可分析各種樣品形態(tài)：包括礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過(guò)濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品等

•只需制備少量樣品便可進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)

•一鍵測(cè)試，一鍵打印報(bào)告

•可選配大容量電池，無(wú)需外部供電情況下可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)時(shí)間工作。

應(yīng)用領(lǐng)域

>分析礦種

涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等

>勘查

多元素現(xiàn)場(chǎng)快速分析，可廣泛應(yīng)用于普查、詳查的各個(gè)過(guò)程，追蹤礦化異常，擴(kuò)展勘查范圍?？纱蟠鬁p少送回實(shí)驗(yàn)室樣品的數(shù)量，從而節(jié)約運(yùn)輸和分析費(fèi)用

>巖芯檢測(cè)

快速分析巖芯和和其他鉆探樣品，建立礦山三維圖，分析儲(chǔ)量，可大大提高鉆探現(xiàn)場(chǎng)及時(shí)決策效率

>開(kāi)采過(guò)程控制

礦體邊界圈定，礦脈走向判定，對(duì)開(kāi)采過(guò)程進(jìn)行精確管理和控制，對(duì)礦石品位進(jìn)行隨時(shí)檢測(cè)

>品位控制

對(duì)精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進(jìn)行精確快速分析，為礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價(jià)值判斷依據(jù)

>環(huán)境分析

快速對(duì)礦石周?chē)h(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進(jìn)行分析與檢測(cè)，評(píng)估礦石環(huán)境修復(fù)效果

>石油化工：燃料，潤(rùn)滑油，添加劑中的硫元素分析，磨損金屬分析

>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等