8月下旬，立訊精密相關(guān)負(fù)責(zé)人，技術(shù)人員來我司考察儀器，送樣品檢測(cè)。我司技術(shù)人員詳細(xì)介紹了儀

器的參數(shù)，應(yīng)用，解釋了客戶針對(duì)性的各種問題?？蛻籼峁┑膸追N樣品檢測(cè)分析后，我司儀器給出的各項(xiàng)

數(shù)據(jù)指標(biāo)都準(zhǔn)確合格。立訊精密在和其他廠家對(duì)比儀器各項(xiàng)性能指標(biāo)價(jià)格后，于9月初選擇英飛思的能量色

散X熒光光譜儀--鍍層分析儀和RoHS檢測(cè)儀，用于產(chǎn)品的鍍層，鍍液檢測(cè)分析，RoHS檢測(cè)分析，為產(chǎn)品

質(zhì)量牢牢把關(guān)。

英飛思鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀

微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

>硅漂移探測(cè)器 (SDD) 作為檢測(cè)系統(tǒng)

高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

>高分辨率樣品觀測(cè)系統(tǒng)

精確的點(diǎn)位測(cè)量功能有助于提高測(cè)量精度。

>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進(jìn)行日常測(cè)量。

英飛思RoHS檢測(cè)儀

1-一鍵式自動(dòng)測(cè)試，使用更簡(jiǎn)單，更方便，即使非技術(shù)人員也能快速上手

2-采用美國(guó)AmpTek最新型Si-pin/SDD探測(cè)器，電致冷技術(shù)，體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低。

3-采用自主研發(fā)的探測(cè)器信號(hào)增強(qiáng)處理系統(tǒng)，提高信噪比，達(dá)到實(shí)驗(yàn)室級(jí)別低1ppm檢出限。

4-八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換。最小0.2mm準(zhǔn)直器可以用于樣品微點(diǎn)測(cè)試，檢測(cè)光斑更小，射線能量更集中。內(nèi)置高清CCD攝像頭，能清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位

5-采用7位濾光片自動(dòng)切換系統(tǒng)，不同濾光片可有效提高不同基體中元素的檢測(cè)下轄

6-多重防輻射泄露設(shè)計(jì)，輻射防護(hù)級(jí)別屬于同類產(chǎn)品高級(jí)

7-*一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到極大提高，提高核心部件使用壽命

8-的芯溫控技術(shù)，保證X射線源的安全可靠運(yùn)行，降低使用成本

9-可定制化報(bào)告，可以自由設(shè)定元素檢測(cè)限，軟件自動(dòng)標(biāo)示超標(biāo)元素（Fail/Pass）

10-多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

11-優(yōu)化了Cl，Cr等元素的檢測(cè)，大大提高了低含量Cl和Cr元素的測(cè)試靈敏度和穩(wěn)定性，為用戶的無鹵分析提供了更精準(zhǔn)的檢測(cè)方法

12-可拓展應(yīng)用：鍍層厚度分析，八大重金屬分析，合金成分分析